DATASHEETS GC Application Retention time test Signal / noise ratio test Separation speed test Negative impacts of gas impurities 　Products HB-SC-0050-Q HB-SC-0300-N HB-SC-0600-N HB-FR02-0500-B HB-PR 1800 HB-PR 2400 >> more <<

GC Products > Negative impacts of gas impurities 氫源中不純物對分析檢測儀器造成之不良影響 檢測儀器 可能造成之不良影響 火焰離子化檢測器(FID) 碳氫化合物會增加干擾雜訊，影響火焰離子化檢測器之靈敏度。不純物會阻塞層析管柱，造成儀器之故障損壞。 質譜儀(MS) 碳氫化合物會增加干擾雜訊，影響火焰離子化檢測器之靈敏度。不純物會阻塞層析管柱，造成儀器之故障損壞。 熱傳導檢測器(TCD) 不純物會氧化檢測零件，降低偵測靈敏度並造成負峰出現，並造成儀器之損壞。 電子捕捉檢測器(ECD) 水份及氧氣會降低電子捕捉檢測器感度，碳鹵化合物更會增加雜訊值及造成負峰的出現。 如果您無法確認氣體或鋼瓶的品質 如果您無法避免管路及閥件的污染 如果您希望得到最好的分析結果 如果您希望GC系統避免損害及維修 漢氫科技固態儲氫系統是唯一最完美的分析儀器設備之氫源